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铁锌镀层微显组织的电位测定
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【文章摘要】      <正> 一引言:显微电位测定是研究镀层及合金电化腐蚀过程的重要手段,F_e—Z_n镀层显微电位测定的目的是为了配合金相系统的研究F_e—Z_N镀层的显微组织同电位,以便寻求更适当的镀层成分,从而提高铁锌铭镀层的防腐性能。
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【期刊】材料保护【卷】【ISSUE】【ISSUEID】    【文章期份】1960    【发布日期】2006/4/3 0:00:00    点击率:1    打印    关闭
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