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CoSiB/FeNbCuSiB和FeNbSiB/FeSiB双层薄带的表面和块体磁各向异性
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| 【文章作者】 |
| 【文章摘要】 <正>O.Zivotsky等人采用现代平面流动制造工艺,制造了这些双层薄带,并借助X-射线衍射测定,证明全是非晶态,带厚均为36μm,中间层厚为若干μm。薄带的弯曲导至块体表面各向异性,磁光kerr效应和振动样品磁强计测量也证明如此。表面和块体磁各向异性差异可认为,表面各向异性只取决于相应层的磁致伸 |
| 【关 键 字】 |
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【期刊】金属功能材料【卷】【ISSUE】【ISSUEID】
【文章期份】2016
【发布日期】2017/2/18 0:00:00
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